شماره تلفن : 09307584802

خانه ژورنال دانشجویان ایران

Iranian Students Article House

نقشه برداری پراش الکترونی سریع: نقاشی با اعداد

عنوان فارسی

نقشه برداری پراش الکترونی سریع: نقاشی با اعداد

عنوان لاتین

Rapid electron backscatter diffraction mapping: Painting by numbers

عنوان مجله مقاله

ELSEVIER , Materials Characterization

سال انتشار : 2019 سال انتشار مقاله
25,000 تومانقیمت ترجمه مقاله
لینک doi مقاله دانلود رایگان انگلیسی خرید ترجمه فارسی مقاله
تاریخ انتشار : 27 نوامبر 2019
103 بازدید
کد مقاله : 1908

چکیده فارسی

خصوصیات میکروساختار (ساختمان میکروسکپی بافت یا اشیا ) با استفاده از پراش پراکندگی الکترونی (ebsd) افزایش زیادی یافته‌است که در آن نقشه‌های غنی از طریق آنالیز فاز کریستالی و جهت‌یابی در میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) ایجاد شده‌اند. تجزیه و تحلیل EBSD متعارف شامل اسکن رادیکال پرتو الکترونی و تجزیه و تحلیل سریالی هر الگوی پراکندگی به نوبه خود است. برای شکل دانه، بافت کریستالوگرافی و آنالیز میکروساختار، این می‌تواند ناکارآمد باشد. در این مقاله، EBSD سریع ، یک رویکرد تلفیقی داده ها با استفاده از تصویر برداری فرایندهای الکترونی (FSE) با نمونه برداری اسپات از الگوهای EBSD، ارائه می شود. ما تصویر fse را به بخش‌هایی از رنگ مشابه (فاز و جهت گیری بلور) تقسیم‌بندی می‌کنیم و سپس داده‌های ebsd نماینده برای هر ناحیه بندی را جمع‌آوری می‌کنیم. این کار ارزیابی ریزساختاری را قادر می‌سازد تا در تفکیک فضایی تصویر برداری fse (سریع)، از جمله جهت گیری و اطلاعات فاز از آنالیز ebsd نقاط نماینده، انجام شود. ما تکنیک سریع ebsd را بر روی نمونه‌های یک سوپر آلیاژ پایه کبالت و یک آلیاژ تیتانیوم فاز دوتایی تحت فشار نشان می‌دهیم و نتایج را با تحلیل مرسوم مقایسه می‌کنیم. ebsd سریع برای ارزیابی توزیع اندازه دانه‌ها در آزمایش‌های زمان محدود مفید است. کلمات کلیدی: نمونه برداری پراکنده ، تصویر برداری الکترونی ، میکرو ساختار

چکیده لاتین

Highlights: 1) We segment colour forescatter electron images into distinct regions of common contrast. 2) For each region, obtain one EBSD pattern to measure phase and crystal orientation. 3) Our static sparse sampling method is reconstructed, providing 100× speed up for microstructure mapping. Abstract: Microstructure characterisation has been greatly enhanced through the use of electron backscatter diffraction (EBSD), where rich maps are generated through analysis of the crystal phase and orientation in the scanning electron microscope (SEM). Conventional EBSD analysis involves raster scanning of the electron beam and serial analysis of each diffraction pattern in turn. For grain shape, crystallographic texture, and microstructure analysis this can be inefficient. In this work, we present Rapid EBSD, a data fusion approach combining forescatter electron (FSE) imaging with static sparse sampling of EBSD patterns. We segment the FSE image into regions of similar colour (i.e. phase and crystal orientation) and then collect representative EBSD data for each segmented region. This enables microstructural assessment to be performed at the spatial resolution of the (fast) FSE imaging whilst including orientation and phase information from EBSD analysis of representative points. We demonstrate the Rapid EBSD technique on samples of a cobalt based superalloy and a strained dual phase titanium alloy, comparing the results with conventional analysis. Rapid EBSD is advantageous for assessing grain size distributions in time-limited experiments. Keywords: Microstructure, Electron imaging, Sparse sampling

دیدگاهها

هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.

اولین نفری باشید که دیدگاهی را ارسال می کنید برای “نقشه برداری پراش الکترونی سریع: نقاشی با اعداد”

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

مجوزها و نمادها


logo-samandehi

پل های ارتباطی با ما …

تبریز ، بخش مقصودیه ، خیابان ارتش جنوبی، کوچه شهید شهابی ، بن بست باغچه ، پلاک ۸۷ ، طبقه 4
تلفن تماس : 04135421108-09307584802
ایمیل : entofa@gmail.com


Unit4,No87,Baghcheh Alley,South Artesh ST,Azadi ave,MAGHSUDIYEH, Tabriz, Iran
کلیه حقوق این وب سایت محفوظ می باشد . طراحی و توسعه آلسن وب    All rights reserved © 2020 Entofa